• 工作模式：支持近邊快掃功能；可選透射/熒光模式吸收譜、發射譜

• 能量范圍：4.5-20 keV

• 樣品處光通量：≥1×10⁶photons/s@7-9keV

• 能量分辨率：0.5-1.5eV@7-9keV

• 能量重復性：≤30meV@24h

• 調節機構精度：能量掃描時最小步長0.1eV

• 多樣品：定制多樣品自動采集，減少進樣次數

• 數據完備：提供標樣數據庫，簡化用戶分析

• 個性定制：支持原位場景定制，提供吸收譜專業數據解析指導

• 能量范圍：5-18keV

• 能量分辨率：≤2.0eV@(7-9keV)

• 能量重復性：≤30meV@24h

• X射線源：配置功率≥100W微焦斑×射線源(2個靶材Pd/W),電壓20-40kV,至大管電流4mA,核心-空穴生成速率≥10¹¹/s @(7-9keV)

• 面探測器：配備毛細管聚焦鏡，樣品處聚焦光斑≤100um,聚焦鏡可自動進行切換

• 調節機構精度：能量掃描時最小步長0.1eV

• 能量范圍：5-12 keV

• 能量分辨率：1-3eV@7-9keV

• 光通量：探測器處至大計數率≥1x10⁶photons/s@8keV

• 單色器晶體：配備柱面彎曲分光晶體，曲率半徑為250mm

• 面探測器：像素尺寸75um*75um

• 有效面積：77mm*38mm

• 工作模式：支持近邊快掃功能；可選透射/熒光模式吸收譜

• 能量范圍：4.5-20keV

• 樣品處光通量：≥1×10⁶photons/s@7-9keV

• 能量分辨率：0.5-1.5eV@7-9keV

• 能量重復性：≤30meV@24h

• 調節機構精度：能量掃描時最小步長0.1eV

素材來源:國創科儀原創

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